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自動/手動走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡SS−60シリーズは、物体の表面構造を拡大し観察するための電子光学機器である。製品構造設計は簡潔で、高低圧真空設計で、電圧を調整でき、異なるサンプルにより適切な検査環境を提供する。
製品の詳細
走査電子顕微鏡の英語はすべてScanning Electron Microscopeと呼ばれ、走査電子顕微鏡またはSEMと略称される。走査電子顕微鏡は、物体の表面構造を拡大して観察するための電子光学機器である。走査電子顕微鏡は鏡筒、電子信号の収集と処理システム、電子信号の表示と記録システム、真空システムと電源システムなどから構成され、拡大倍率の調整可能範囲が広く、画像解像度が高く、被写界深度が大きいなどの特徴がある。
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