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めっき層厚測定器XRF-650 T X蛍光線膜厚分析器めっき層検出器
XRF-650 Tは亜鉛めっき層の厚さを測定する装置であり、亜鉛めっき層の厚さ測定に専用である、その核心部品は米国輸入を採用し、ソフトウェアアルゴリズムは米国EDXRFフロンティア技術を採用し、計器に使用される標準サンプルはすべて権威のある第三者検査機関の報告がある、精度、精度、検出限界などの技術パ
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