DM2400タイプ

MEDXRFけいげんそスペクトロメータ

満足する国Ⅴ、国VI対車用蒸気ディーゼル超低S検出要件

超低検出限界（300s）：

Si: 0.7ppm，P: 0.4ppm，

S: 0.15ppm，Cl: 0.08ppm

採用

モノクロ励起エネルギー分散Xラジオ蛍光(MEDXRF)ぶんせきぎじゅつ

高回折効率たいすうらせん回転する2つのサーフェス(LSDCC)じんこうけっしょう

高計数率(2Mcps)および解像度(123eV)のSDDプローブ

合理的kV、mA、ターゲットの組み合わせマイクロコークススポットベリリウム窓X放射線管

基準を満たす：

GB/T 11140

ISO20884

ASTM D2622

ASTM D7039

ASTM D7220

ASTM D7757

ASTM D7536

ISO 15597

ASTM D6481

概要

DM2400型単色励起エネルギー分散X光線蛍光軽元素（Si、P、S、Cl）分光計、略称DM2400タイプMEDXRF軽元素分光計、当社は数十年にわたってX蛍光分光器の研究経験は、会社の既存のDMシリーズX蛍光硫黄測定器、X蛍光多元素分析計、波長分散X放射線蛍光マルチチャネル分光計などを基に開発した当社初の単色励起XRF分光計以下の技術とデバイスを採用しています。採用する50Wライトパイプの分光計DM2400優れた再現性と安定性、超低検出限界を持ち、まさに現代科学技術を極致に発揮した。

モノクロ励起エネルギー分散Xラジオ蛍光(MEDXRF)ぶんせきぎじゅつ

X放射線蛍光分光計の検出限界LOD（limit ofdetection3）とは、マトリックスブランクによる機器背景信号の標準偏差の

倍値の対応する量、すなわち：1（

）式中、_Rbバックグラウンド（下地）のカウント強度として、N既知濃度はCの低濃度試料のカウント強度、T1は時間を測定します。従属式（）検出限界と感度（_N-Rb）/Cバックグラウンドに反比例_Rb

の平方根に比例する。測定時間が一定の場合に検出限界を下げるには、感度を向上させたり、背景を低下させたりする必要があります。1.図MEDXRF

解析技術の原理図従来のXRFにかかわらずEDXRFやはりWDXRF、低い検出限界を実現できない主な理由の1つはX

光線管出射スペクトルにおける連続珪素放射の散乱は、蛍光スペクトルの連続散乱背景を高くする。モノクロ励起エネルギー分散Xラジオ蛍光(MonochromaticExcitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)分析技術とは、光学デバイスを用いてX光線管出射スペクトルを単色化することにより、蛍光スペクトルの連続散乱背景を大幅に低下させるとともに、できるだけ少ない低下、可能であれば必要な励起を増加させることができるX放射線の単色化された線または狭エネルギー帯の強度は、検出限界を大幅に低減する。従来の1EDXRF2低下した終了個の数値レベル、比較的に大きい電力（例えば4kw)の

WDXRF2.もずっと低いです。図サンプルの

XRF

スペクトル図高回折効率対数ねじ線回転点対点集束人工単色結晶このX放射線管出射スペクトルを単色化する方法は多く、フィルタ法、二次ターゲット法、回折法などがある。回折法における二重曲面回折結晶DCC（

DoublyCurvedCrystals)は単色化が最も良く効率的である。

回折は満たさなければならない Bragg2法則：

nλ=2dsinθ2（）つまり、ソースから放出される放射線の波長は、（)式が回折されるので、優れた単色化が可能です。またDCCポイントソースをフォーカスすることができるので、大きな収集立体角があり、非常に効率的です。また、集束により、サンプルに照射されるスポットを小さくすることができ、小面積の半導体検出器Si-PINまたはSDD

ほとんどの試料の比較的小さい面における蛍光線、すなわち3.DCC検出効率も向上しました。図

実線はX放射線管の出射スペクトル、赤色は経であるLSDCC

単色化の特徴X放射線入射スペクトルDCCそのサーフェスによってまた半焦点（Johann)、フルフォーカス（Johansson）と対数ねじ（Logarithmic Spiral)などがあります。ここで、半焦点は回折条件を部分的に満たすだけであるので、半焦点DCC単色化の特徴X放射線入射スペクトルは最悪である。全焦点は回折条件を完全に満たし、点対点焦点である。ただし、フルフォーカスDCCの製造プロセスは非常に複雑で、曲げ以外に研削加工が必要ですR曲面の過程、天然結晶、例えばSi，Ge等は脆く、極めて容易には磨けないが、人工結晶は磨けない。また、天然結晶は通常非常に狭いスペクトル領域にある誘導体射出X放射線。ターゲットフィーチャーの原因

X放射線は一部だけ回折され、積分回折率が低い。DM24002使用する対数ねじ線回転双曲面人工結晶DM30Lは、当社の技術エリートを集めた年の工夫を凝らして開発された特許製品。たいすうらせんDCC回折条件を完全に満たすものでもあり、焦点は点対点ではなく点の向こう側にあるが、この面は小さいため、一般的には2mm左右なので、点が合っていると考えられます。3それは10DM

人工結晶、この結晶の積分回折率は天然結晶の4. まで倍であるため、この結晶の効率は現在世界で最も高い。また、曲げるだけで研磨や継ぎ目が不要で、製造が便利です。

図LSDCCポイントツーポイントフォーカスの原理図高解像度(123eV)高計数率

(2Mcps）のSDDプローブX放射線検出器の種類は多く、比例計数管があり、8Si-PIN8検出器とシリコンドリフト検出器SDDなどがあります。検出器の解像度は全能ピークの半幅で表され、全能ピークの正味計数は半幅とは関係ないが、その背景計数は半幅に比例するため、解像度が高いほど検出限界は低い。比例計数管の半幅は半導体検出器のものである倍程度なので検出限界が高いの平方根倍くらいです。Si-PINの解像度比

SDD0のやや劣っており、高カウント率では解像度が急激に低下しているため、SDD最高の探査機です。DM240ドイツ採用KETEK社製VITUS H20 CUBE(最高級)SDD²検出器、解像度が以下123eV、有効検出面積

20mm5. 、カウント率2Mcps

。図シリコンドリフト検出器SDD合理的kV、

mA、ターゲットの組み合わせの微小焦点スポット薄ベリリウム窓X放射線管励起試料のX放射線エネルギーが所望の分析元素の吸収限界に近づくほど、その励起効率は高くなる。DM30L結晶の回折のみX放射線管出射スペクトルにおける高強度特性X放射線、それは標的材が放出されている。したがって、合理的なターゲットの選択は最高の励起効率を得ることができる。DM2400標準型は測定可能なため

Cl以下の要素がありますので、Agターゲットとする。ターゲットを選定した後、X放射線管の最大出力が一定の場合、例えば50W、合理的な光管高圧（kV）と電流（mA）の組み合わせは最大の励起効率を達成することができる。ポイントツーポイントフォーカスを採用しているため、微小焦点スポットのXライトパイプ。ターゲットの特徴により

X放射線エネルギーが低いので、薄いベリリウム窓を使わなければなりませんX放射線管DM2400採用50W微小焦点スポット薄ベリリウム窓XRayTubeAgターゲット

kV6. 、mA合理的な組み合わせを行う。

図

微小焦点スポット薄ベリリウム窓7X放射線管ひょうてい既知の含有量の個含むSi、P、7S

、7. Clサンプルは計器を標定し、図面を得るを選択します。図含むSi、P、

S、Cl0.999サンプル作動曲線これらの作業曲線の相関係数γ

すべてより大きい

、表示DM2400分光計の線形誤差は極めて小さい。

せいど2. 分析の精度をさらにテストするために、異なる硫黄含有量を有するディーゼル油と軽質油の5つのサンプルを調製し、各サンプルを2つの異なるサンプルカップに入れて行ったS精度試験：

ディーゼル油2ガソリンガソリンガソリンテーブル得られた濃度結果（ppm)、および公称値との比較。これらの結果は、低濃度レベルでは、

DM2400

分光計は実現できるSの優れた精度。精度3種類に対して、それぞれ7つずつ入れて違います

サンプルカップ1.のガソリンサンプルを用いて行うS繰り返し試験：テーブルSガソリンサンプルS

RSD8.6%4.00%2.69%これらの結果は、低濃度レベルでは、

DM2400

分光計は実現できるSの優れた反復性。特徴

高速同時–必要な測定要素迅速に分析し、一般的に数十秒で含有量の結果を与える。低検出限界–先進的な採用

MEDXRFテクノロジー、LSDCCコア技術は、世界最低の検出限界に達している。極めて高い再現性と再現性を備えている。ちょうきあんてい–可変利得デジタルマルチチャネルを採用,あります

PHA自動調整、ドリフト補正、偏差補正などの機能，優れた長期安定性を備えている。

環境に配慮した省電力–放射線防護のための免除要件。分析時に接触せず、サンプルを破壊せず、汚染せず、化学試薬も燃焼も必要ない。使い勝手がよい–タッチパネル操作。サンプルをサンプルカップに直接入れ、器具を入れたら押すだけ

[スタートアップ]キーを押すだけで、本当にワンクリック操作を実現します。高い信頼性

–一体化設計、集積化の程度が高く、環境適応能力が強く、耐干渉能力が強く、信頼性が高い

、添加剤、添加剤含有潤滑油、および精製過程における製品。

各業界のあらゆる材料にも使用できますCl次の要素の同時測定1主な技術指標3注意：ユーザーが標準型と考えている場合DM2400要件を満たすことができない場合は、当社に提出することができ、当社はできるだけユーザーの要件を満たすことができます。より低い検出限界が要求される場合、当社は結晶をブロックをに追加ブロックは検出限界を下げることを元のものとする1/1.73。測定が必要な場合はF以下の原子番号の要素は、当社がユーザーに選択できるAP3.3入射窓のSDD。ユーザーが高Sの基体下微量測定AlとSi、当社は標準型の