GX5050：動的制御高速デジタルI/O PXIボードカード

• 32個の双方向I/Oピン（16枚のカードデイジーチェーン接続をサポートでき、合計512個のピン）
• 3 MBまたは12 MBのオンボードメモリ
• 外部およびプログラム可能な内部クロック周波数は5 Hzから50 MHz
• 動的制御シーケンサは、UUT同期のブランチ、ループ、サブルーチン、高度な機能をサポートする
• 複数のI/Oオプションには、TTL、PECL、LVDS、およびプログラマブルレベルが含まれる

概要

GX 5050は高速動的デジタルI/Oカードであり、大機能テストシステムで必要とされるIO製品に相当するすべての機能を提供している。このカードはGC 5050と同じ構造を持っているが、GX 5050はPXIカード（6 U）、GC 5050はPCIカードであり、どちらもRUNモードでホストから独立して動作することができる。

適用＃テキヨウ＃

• 自動試験装置（ATE）
• 高速機能デジタルテスト
• ベクトル取得
• ハイブリッドおよびデジタルデバイスのテスト
• メモリテスト
• イベントシーケンサ、論理モードキャプチャ

GX 5050はリアルタイムのデジタルインセンティブと取得を提供し、各カードは32個のピンを持っている。最大512個のピンに達することができ、デイジーチェーンで16枚のカードを機器に接続することができます。各カードの32個のピンは8個を1組とし、4組に分けて、各組の入出力方向の配置を行うことができる。シーケンサ、外部ソース、または両方を併用すると、ピングループの方向を変更できます。同時にシステムは16ビットの外部バスを持参し、外部時間のトリガと同期に使用する。

クロックとストローブ信号はデイジーチェーンのリボンケーブルを介して各カードに割り当てられ、これらの信号は内部または外部で生成することができる。外部制御信号は、被測定ユニット（UUT）との完全な同期を可能にし、試験の初期化部分を最小化する。

アルゴリズムシーケンサ技術（AST™）

革新的で、最先端のアルゴリズムシーケンサにより、ユーザーは出力ベクトルを操作するためのループとブランチを作成できます。すべてのシーケンサコマンドは、外部イベントバスを使用して調整でき、Windowsを使用することができます®APIコマンドまたはスクリプト言語は、グラフィックベクトルエディタを使用してプログラムされます。これにより、GX 5050は最大テストレートで無期限にテストベクトルを生成することができる。内部および外部トリガおよび一時停止コマンドには、さまざまなパターンがあります。

オンボードメモリ

オンボードメモリは3 MBまたは12 MBに設定でき、ユーザーはアップグレードできます。データを出力し、データに応答し、テストステップの順序付けコマンドをテストするための個別のメモリを提供します。データに応答するための個別のメモリにより、アプリケーションは双方向モードとは独立してUUTピン上のアクティビティを読み込むことができる。これはほとんどの高速デジタルI/O機器に欠けている重要な特徴です。

互換性

GX 5050は任意の6 U PXIスロットで動作し、3.3 Vと5 Vの電源を提供し、MarvinテストソリューションGT 50とGT 25テストベクトルと互換性がある。また、ファームウェアは、システムプログラミングのフロントパネルに独自のアップグレードを使用することができます。

I/Oモジュール

GX 5050は複数のI/Oモジュールを提供し、入出力レベルはTTL、PECL，ECL，プログラマブルレベル、LVDS、カスタムモジュール。タイプが多いため、GX 5050を注文する際にI/Oモジュールタイプとメモリサイズを指定する必要があります。

構成

ソフトウェア

ボードには、ベクトル編集、仮想計器パネル、32/64ビットDLLドライバライブラリ、ドキュメントを含むGTDIO/DIOEasyが用意されています。仮想パネルは、現在の機器の設定と状態を表示するウィンドウからインタラクティブに機器をプログラムし、制御するために使用できます。さらに、ATeasyなどのプログラミングツールや言語へのアクセスをサポートするインタフェースファイルを提供しています。LabView，C / C ++，Microsoft VisualBasic®，DelphiとPascal。オンラインヘルプファイルとPDFユーザーズガイドには、インストール、使用、プログラミングボードの説明が含まれています。