機能の説明:
4点プローブ法、全自動運転測定システム、PCソフトウェア収集とデータ処理、参照A.S.T.M標準方法半導体材料の抵抗率とブロック抵抗を試験する、プローブ圧力値、テスト点数、多種の測定モードの選択を設定することができる、真空環境、表示可能:角抵抗、抵抗率、表示2 D、3 Dスキャン/数値図、温湿度値、標準キャリブレーション抵抗体を提供する・レポート出力データ統計解析.
FT-3100シリーズ全自動四プローブテスタ
二.適用範囲
ウエハ、アモルファスシリコン/微結晶シリコンと導電膜の抵抗率測定、選択エミッタ拡散シート、表面不動態化シート、クロスフィンガーPN接合拡散シート、*電極設計、例えば銅めっき抵抗測定など、半導体材料分析、強誘電材料、ナノ材料、太陽電池、LCD,OLED,タッチパネルなど.
3・技術パラメータ:
規格型番
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FT-3110A
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FT-3110B
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1.抵抗
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10^-5~2×10^5Ω
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10^-6~2×10^5Ω
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2.ブロック抵抗
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10^-5~2×10^5Ω/□
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10^-6~2×10^5Ω/□
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3.抵抗率
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10^-6~2×10^6Ω-cm
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10-7~2×106Ω-cm
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4.テスト電流
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0.1μA.μA.0μA,100µA,1mA,
10mA,100mA
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1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA
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5.電流精度
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±0.1%
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6.抵抗精度
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≤0.3%
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7.PCソフトウェアの操作
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PCソフトウェアインタフェース:抵抗、抵抗率、導電率、角抵抗、温度、単位換算、電流、電圧、プローブ形状、プローブピッチ、厚さ、2D、3Dスペクトル、圧力、
レポート生成など
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8.圧力範囲:
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プローブ圧力調整可能範囲:ソフトウェア制御、100-500g調整可能
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9.探査ピン本
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針間絶縁抵抗:≧1000MΩ;機械移動率:≦0.3%
まるあたまどうめっきめっきマテリアル、プローブ間隔1mm;2mm;3 mmオプション、その他の仕様はカスタマイズ可能
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10.そくていウェハ
寸法すんぽうオプション
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ウェハサイズ:2~12インチ(6インチ150mm,12インチ300mm);
正方形片:大から156 mmX 156 mmまたは125 mmX 125 mm
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11.分析モード
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単一点、5点、9点、多点、直径走査、面走査などのモードの自動試験
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12・加圧方式
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測定重複性:重複性≦3%
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13・安全防護
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制限レンジと圧力保護を有する、誤操作と急停止防護、例外アラーム
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14.テスト環境
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しんくう
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15・電源
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入力:AC 220V±10%.50 Hz消費電力:<100W
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16・購入項目
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コンピュータとプリンタ
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