一.機能の説明:
4点プローブ標準試験方法は、ステッピングシステムを用いてプローブとサンプルの接触を自動的に制御し、人為的な要素が試験結果に与える影響を減少する、参照A.S.T.M規格、ブロック抵抗、抵抗率、導電性データ、PCソフトウェア収集とデータ処理を測定して自動点測定モードまたは手動点測定モードを実現し、同じ位置の繰り返し試験または多点の面抵抗測定、レポート出力データ統計解析;標準キャリブレーション抵抗体を提供する.
FT-3120シリーズ半自動四プローブテスタ
二.適用範囲:
ウエハ、アモルファスシリコン/微結晶シリコンと導電膜の抵抗率測定、選択エミッタ拡散シート、表面不動態化シート、クロスフィンガーPN接合拡散シート、*電極設計、例えば銅めっき抵抗測定など、半導体材料分析、強誘電材料、ナノ材料、太陽電池、LCD,OLED,タッチパネルなど.
3・技術パラメータ:
規格型番
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FT-3120A
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FT-3120B
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FT-3120C
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FT-3120D
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1.抵抗
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10^-3~2×10^4Ω
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10^-5~2×10^5Ω
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10^-6~2×10^5Ω
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10-4~1×107Ω
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2.ブロック抵抗
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10^-3~2×10^4Ω/□
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10^-5~2×10^5Ω/□
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10^-6~2×10^5Ω/□
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10-4~1×107Ω/□
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3.抵抗率
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10^-4~2×10^5Ω-cm
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10^-6~2×10^6Ω-cm
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10-7~2×106Ω-cm
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10-5~2×108Ω-cm
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4.テスト電流
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0.1μA.μA.0μA,100µA,1mA,
10mA,100mA
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1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA
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10mA ---200pA
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5.電流精度
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±0.1%
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±2%
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6.抵抗精度
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≤0.3%
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≤10%
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7.PCソフトウェアの操作
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PCソフトウェアインタフェース:抵抗、抵抗率、導電率、角抵抗、温度、単位換算、電流、電圧、プローブ形状、プローブピッチ、厚さ、データ管理分析:プロセスデータ、大、小値、平均値、分散、変異係数、サンプル番号、テスト点数統計レポート生成など
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8.プローブ範囲:
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プローブ圧力は100 ~ 550 g、サンプル接触に応じて手動で調整する必要がある
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9.探査ピン本
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針間絶縁抵抗:≧1000MΩ;機械移動率:≦0.3%
まるあたまどうめっきめっきマテリアル、プローブ間隔1mm;2mm;3 mmオプション、その他の仕様はカスタマイズ可能
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10.そくていウェハ
寸法すんぽうオプション
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ウェハサイズ:2~12インチ(6インチ150mm,12インチ300mm);
正方形片:大から156 mmX 156 mmまたは125 mmX 125 mm
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11.分析モード
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自動または手動シングルポイントパターン#パターン#
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12・加圧方式
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測定重複性:重複性≦3%
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13・安全防護
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制限レンジと圧力保護を有する、誤操作と急停止防護、例外アラーム
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14.テスト環境
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実験室環境
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15・電源
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入力:AC 220V±10%.50 Hz消費電力:<100W
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16・購入項目
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コンピュータとプリンタ
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