JKTD-1000タイプ強誘電材料特性試験システム

キーワード：電気ヒステリシスループ、蝶曲線、疲労、パルス

1.システム概要：

強誘電体は誘電電圧電気、熱放電、強誘電特性及びそれに関連する電歪特性非線形光学特性、電気光学特性、音響光学特性、光屈折特性、強誘電メモリ記憶性能などを有し、すべてその電気分極特性と関連し、特に誘電体の熱放電と強誘電特性はすべてその白髪分極と関連しており、強誘電体は上述の性質を持っているため、多くの高技術の中でその圧電性能を利用して超音波探査、ソナー、安定周波振動調和器、音響表面波デバイスなどのために電気音響変換器を作製することができ、その熱放電特性を利用して赤外検出器、赤外モニタ、熱イメージングシステムなどを作製することができ、線形光学効果を利用してレーザー周波数逓倍、三倍額と周波数を作製することができる、差周波器：電気光学性を利用してレーザー電気光学スイッチ、光偏向器、光変調器などを作ることができる：音響光学効果を利用してレーザー音響光学スイッチ、音響光学偏向器、音響光学変調器などを作ることができる：光屈折効果を利用して光記憶装置を作ることができる、強誘電材料の強誘電性は強誘電メモリを作ることができる。

本試験システムは強誘電体の強誘電性能測定に用いられ、強誘電体の科学研究及び近代物理実験における固体物理実験及び工業化生産強誘電メモリの強誘電性能測定に用いることができ、本試験システムは主に信号源、高圧電源、電荷増幅器、積分器、オシロスコープ、コンピュータ通信インタフェース、コンピュータとアプリケーションソフトウェアなどの部分から構成される。

モード測定回路は、従来のSawyer-Tawer-モードに比べて、この回路は外付け容量をキャンセルし、寄生素子の影響を小さくすることができる。この回路の試験精度は積分器積分容量の精度に依存し、試験への影響一環を減少させ、比較的にスケーリングと較正が容易で、しかも比較的に高い測定精度を実現することができ、それは強誘電体薄膜の電気ヒステリシスループを描くことができるだけでなく、強誘電体薄膜材料の和分極Ps、残留分極Pr、保磁場Ec、漏電流kなどのパラメータを定量的に得ることができ、および強誘電体薄膜材料の強誘電体労働性能、強誘電体保持性能の試験に対して、強誘電体薄膜

一、製品の主な用途：

1、薄膜、厚膜の強誘電材料性能試験と研究に広く応用できる

2、バルクセラミックス、強誘電デバイス及びメモリなどの強誘電材料分野の研究に広く応用できる。

二、主要技術パラメータをテストする：

1、電気ヒステリシスループ（飽和分極、残留分極、漏れ電流などのパラメータを含む）

2、強誘電材料疲労試験、保持性能試験など

3、強誘電材料のパルス試験、印字などのパラメータ

4、ひずみ/変位曲線（蝶曲線）

三、主要技術指標

1）出力信号電圧：±10000 V

2）印加周波数：1 Hzから1000 Hz

3）波形：正弦波、三角波、方波

4）USBオシロスコープ：4 CH、70MHz

5）絶縁抵抗/漏れ電流測定：10 TΩ/1 pA、1000 V

6）電気ヒステリシスループ試験温度変化範囲：RT ~ 200℃

7）温度変化測定制御ユニット：精度0.1℃、出力：500 W、インタフェース：RS485

8）試験サンプリング速度：<5秒／試料・温度点

9）サンプル規格：セラミックブロック：Φ10-100mm，厚さ0.1 ~ 10 mm

フィルムサンプル：Φ10-100mm，厚さ1 ~ 100μm

10）制御方式：コンピュータリアルタイム制御、リアルタイム表示、リアルタイムデータ計算

11）データ収集分析ソフトウェア：

a）運転環境windows 7、

b）測定時にリアルタイムで収集した電気ヒステリシスループを表示し、強誘電材料の飽和分極Ps、残留分極Pr、保磁場Ec、漏れ電流などのパラメータを定量的に得ることができる、強誘電材料の強誘電疲労性能、強誘電保持性能の試験を行うことができ、測定モード、走査電界の振幅などを選択することができる、

c）変位回帰法によるサンプルD 33の歪／変位曲線（蝶曲線）の描画

d）測定結果はOriginなどのデータ処理ソフトウェア呼び出し処理のためのデータファイルとして保存することができ、またマイコン画面表示結果画面を保存し印刷することができる、

e）データ平滑化、電気ヒステリシスループ補正などのデータ処理機能を有する。

でんきヒステリシスループ