GWZK-03A高温精密圧電インピーダンス解析測定システム

材料分析治具及び分析ソフトウェアの搭載

キーワード：インピーダンス解析,圧電セラミックス、

GWZK-03A高温精密圧電インピーダンス解析測定システム国内でLXI基準を満たす次世代高温圧電インピーダンス試験器具であり、その0.1%の基本精度、20 Hz〜5 MHzの周波数範囲は素子と材料のほとんどの低圧パラメータの測定要求を満たすことができ、マイク、共振器、インダクタ、セラミックコンデンサ、液晶ディスプレイ、可変容量ダイオード、変圧器などの多くの電気性能の分析及び低ESRコンデンサと高Qインダクタの測定に広く応用できる。

GWZK-03A高温精密圧電インピーダンス解析測定システム製品の超高速な試験速度は、自動生産ラインの点検機、圧電デバイスの周波数応答曲線解析などに特に適している。その多種の出力インピーダンスモードは各インダクタンス変圧器メーカーの異なる標準需要に適応することができる。

GWZK-03A高温精密圧電インピーダンス解析測定システム製品はその性能でIECやMIL規格などの商業規格や軍用規格のさまざまなテストを実現することができる。現在、このインピーダンス分析は全国の各大学と科学研究院で広く使用されている。

一、常温で測定可能な製品の広範な応用範囲：

1. 受動素子：マイクロホン、共振器、インダクタ、セラミックコンデンサ、液晶ディスプレイ、バラクタダイオード、トランス電気,圧電素子、チップアセンブリ及びネットワーク素子等のインピーダンスパラメータ解析及び性能解析

2. 半導体素子：可変容量ダイオードのC−VDC特性、トランジスタまたは集積回路の寄生パラメータ解析

3. その他の素子：プリント基板、リレー、スイッチ、ケーブル、電池などのインピーダンス評価

4. 誘電体材料：プラスチック、セラミックス及び他の材料の誘電率及び損失角評価

5. 磁性材料：フェライト、アモルファス、その他の磁性材料

6. 半導体材料：半導体材料の誘電率、導電率及びC−V特性

7. .液晶材料：液晶セルの誘電率、弾性常熟などのC-V特性

三、高温の主な測定パラメータ：

1、温度（T）、周波数（f）、レベル（V）、バイアス（Vi）による以下のパラメータの変化規則を測定する：

2、容量（C）、インダクタンス（L）、抵抗（R）、リアクタンス（X）、インピーダンス（Z）、位相角（＃）、コンダクタンス（G）、電気ナノ（B）、アドミタンス（Y）、損失因子（D）、品質因子（Q）などのパラメータを測定し、

3、反応材料の導電性、誘電性を得る複素誘電率（εr）と誘電損失（D）パラメータを同時に計算する。

二、主な技術パラメータ：

1.テスト頻度：20HZ-10MHZ（特にカスタマイズ可能）

2. テストレベル:10mV～5V±（10%+10mV）

3・温度範囲：-80℃-600℃（オプション）

2、温度測定精度 0.1℃

3、昇温速度 1—20。C/min3.

4. テストパラメータ：C,L,R,Z,Y,X,B,G,D,Q,

5.温度制御モード： プログラム制御、常温、変温、恒温、昇温、降温などの多種の組み合わせ方式を提供する

6. きほんせいど: 0.1%

7.電極材質:イリジウム白金合金

8.ソフトウェア機能：データを自動分析し、分類保存でき、サンプルと測定方案を結合し、システムに必要な実験方案を生成し、出力するTXT、XLS、BMPとうけいしきファイル

9. ディスプレイ: 350×260こうしパターンLCD液晶ディスプレイ

10. 測定可能22インピーダンスパラメータの組み合わせ

11. インタフェースモード: RS232CまたはHANDLER

12. でんあつ:AC-220V

13. 体積：高80mm＊幅205mm＊長さ230mm

14. じゅうりょう:3.5KG

15、外形寸法：L360mm*W370mm*H510mm

16、ネット 重さ：22KG