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グラフェンBET比表面分析計
機器型番:JW-BK 200 A原理方法:ガス吸着法、静止容量法
製品の詳細
計器型番 JW-BK200A
げんりてきアプローチ ガス吸着法、静的容量法、
テスト機能 等温吸着脱離曲線、単一点、多点BET比表面積、Langmuir比表面積、外表面積(STSA)、単一点吸着総孔体積、平均孔径、BJHメソポーラス大孔容積及び孔径分布分析、t−plot法、as−plot法、DR法、MP法微孔の通常分析、HK法、SF法による微孔精密分析、平均粒径推定、特殊機能:NLDFT法の孔径分布分析、真密度精密試験ガス吸着量、吸着熱試験、品質入力法テスト、
テストガス 窒素、酸素、水素、アルゴン、クリプトン、二酸化炭素、メタンなど、
テスト範囲 比表面積0.005(m2/g)--上限なしまで、メソ多孔質、マクロ多孔質分析2 nm−500 nm、
微細孔分析0.35 nm−2 nm、総穴体積0.0001 cc/g−上限なし、
くりかえしせいど 比表面積≦±1.0%外表面積≤±1.5%微孔*可数孔径≦0.01 nm、真密度≦±0.04%
テスト効率 比表面積は1サンプルあたり平均15 min、メソ多孔質、マクロ多孔質分析は1サンプルあたり2〜3時間である、ミクロ細孔分析は1サンプル当たり平均10〜15時間、
ぶんせきステーション 2つの完全に独立したサンプル分析ステーションで、同時に真空脱気前処理を行うことができる、各分析ステーションにはオリジナルの3 L真空ガラス内の胆杜瓦瓶が2本、
P 0ビット 各サンプル分析ステーションには独立したP 0管が設置され、計2本、単独の輸入圧力センサーによって制御され、完全に分析位と分離され、リアルタイム、正確に窒素ガスの飽和蒸気圧を測定でき、リアルタイムで理論計算に参加することができる、
リフトシステム 2つのサンプル分子ステーションはその場に2セットの独立した昇降システムを設置し、電動制御、自動制御、そして互いに干渉しない、
しんくうシステム 全ステンレス多通路並列真空引き管路システム、真空引き速度微調整弁システム**技術は、2-200 ml/sの範囲内で自動的に調整することができる、
しんくうポンプ 外付式輸入2段回転板式機械真空ポンプ(自動逆油防止)、
脱気システム 同位、異位真空脱気前処理システムの標準化設計は、単独の輸入圧力センサーによって制御され、完全に分析位と分離され、リアルタイム、正確に脱気システムの真空度を測定することができる:2つの独立加熱バッグ、2セットの独立温度制御テーブル、いずれもプログラム昇温制御ができ、昇温階数は10階に達し、サンプルの同位脱気処理を行うことができ、サンプルの異位脱気処理を行うこともできる、2つのサンプルを分析テストすると同時に、他の2つのサンプルの真空脱気処理を行うことができる、
だっきおんど 室温―400℃、精度±1℃、
あつりょくセンシング オリジナル輸入シリコン薄膜容量式多圧力センサ、1000 torr(133.3 KPa)、10 torr(1.333 KPa)、1 torr(0.1333 KPa)または0.1 torr(0.01333 KPa)、精度≦±0.15%
ぶんあつはんい P/Poの正確な制御可能範囲は10-8-0.998、1000点以上を測定することができます。
あつりょくせいぎょ 平衡圧力知能制御法、圧力制御可能間隔<0.1 KPa、吸着**圧力点は自動制御可能、
データ収集 イーサネットデータ収集、収集速度が速く、精度が高く、Windows 7/XP 32/64ビットシステムと互換性がある、


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