武漢嘉儀通科技有限公司
トップページ>製品>ホール効果試験システム(HET-3)
ホール効果試験システム(HET-3)
ホール効果試験システムHET-3はヴァンダーバーグの法則に基づいて材料の電気輸送性能パラメータを測定し、例えばキャリア濃度、移動度、抵抗率、ホール係数など、薄膜あるいは薄層材料はすべて測定でき、すべての半導体材料に応用でき、Si、ZnO、SiGe、SiC、GaAs、InGaAs、InP、GaN(N型
製品の詳細

製品の特徴

●自主知的財産権製品。

●温度範囲100 K ~ 700 K(連続変温可能)

●高精度定電流源と電圧計を採用し、計器試験の良好な精度と高い安定性を確保し、性能が優れている。

●磁場方向の変化を自動的に制御し、より便利で正確である。

・サンプルクランプ方式は迅速で便利であり、オーミック接触を解決できるサンプルチップを使用する。

●製品の工業外観は一体化、精密化設計を採用し、人間化の設計理念に溶け込み、目を楽しませるだけでなく、操作も便利である。

●インテリジェント化されたユーザーインターフェースは操作が簡単で、機能が完備したソフトウェアプラットフォームはお客様に友好的な操作体験をもたらし、テストプロセスをより便利で迅速にする。

オンライン照会
  • 連絡する
  • 単位
  • 電話番号
  • Eメール
  • ウィーチャット
  • 認証コード
  • メッセージの内容

Successful operation!

Successful operation!

Successful operation!