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ホール効果試験システム(HET-3 RT)
ホール効果試験システム(ホール効果試験器)HET-3 RTはファンデルベルク法則に基づいて材料の電気輸送性能パラメータ、例えばキャリア濃度、移動度、抵抗率、ホール係数などを測定し、薄膜あるいは薄層材料はすべて測定でき、Si、ZnO、SiGe、SiC、GaAs、InGaAs、InP、GaN(N型&P型
製品の詳細
製品の特徴
●自主知的財産権製品。
●高精度定電流源と電圧計を採用し、計器試験の良好な精度と高い安定性を確保し、性能が優れている。
●磁場方向の変化を自動的に制御し、より便利で正確である。
・サンプルクランプ方式は迅速で便利であり、オーミック接触を解決できるサンプルチップを使用する。
●製品の工業外観は一体化、精密化設計を採用し、人間化の設計理念に溶け込み、目を楽しませるだけでなく、操作も便利である。
●インテリジェント化されたユーザーインターフェースは操作が簡単で、機能が完備したソフトウェアプラットフォームはお客様に友好的な操作体験をもたらし、テストプロセスをより便利で迅速にする。
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