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イオンビームアナライザ（Ion Beam Profiler）
新しいPhotonisイオンビームアナライザは、任意の荷電粒子（イオン、電子、UV光子または軟X線など）の可視化を実現し、100フレーム/秒の速度で画像をキャプチャし、PCに保存し、システムの組み合わせによりイオンビーム輪郭分析を行い、ゲートシャッターをサポートすることができる。アプリケーションに応
製品の詳細
新型のPhotonisイオンビームアナライザ実装任意の荷電粒子（イオン、電子、UV光子や軟X線など）の可視化、で100フレーム/秒の速度で画像をキャプチャし、保存します。PC上，システムを組み合わせて作ることができますイオンビームプロファイル解析、サポートゲートシャッター。
アプリケーションに応じて，注文時に異なるタイプのマイクロチャネルボードを選択し、バックエンドのNocturn CMOS相機械出力可能NTSC、PAL、またはCameraLink互換フォーマットのSXGA（1280 x 1024）イメージ。コンピュータインタフェースはギガビットイーサネットまたはUSB 3で、リアルタイムビデオまたはイオンビーム特徴画像の静的キャプチャに使用されます。
製品の特徴
高感度CMOSカメラ
カスタムマイクロチャネルボード
アナログまたはデジタル画像
イオン損失と最適化のリアルタイムフィードバック
技術パラメータ
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MCPsの物理的特性 |
検出器の電気特性 |
CMOSカメラ |
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直径の使用25, 40, 75, 100 mm
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電子利得@2400 V 1 x 107Minimum |
Nocturn XL Monochrome |
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MCP孔間隔6, 12, 32 µm
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バイアス電流範囲20-199 mA@2400 V |
ピクセルサイズ9.7 x 9.7µm |
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抵抗12-120 Megohms |
画素数1280 x 1024 |
関連アプリケーション
単光子測定;質量分析計イオンビーム解析WMI;分光法
製品資料
Ion-Beam-Profiler-Datasheet
オンライン照会
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