J 200フェムト秒レーザエッチング注入システムユーザーはサンプル画像上で任意にレーザーサンプリングモードを編集することができ、ラスタ線状、曲線、ランダム点、任意のサイズのメッシュまたは事前に編制されたモードを含み、長レーザーパルスシステムによって生成されたサンプル粒子は大きく（常に数ミクロンより大きい）、輸送管に常駐し、輸送効率が低く、分析の感度が低下し、ユーザーは完全にJ 200システムに頼って高品質のサンプル粒子をICP-MSシステムに輸送することができ、ユーザーは簡単で便利にハードウェア部品を操作することができる。tabボタンを簡単にクリックするだけで、ユーザーはフェムト秒レーザー、気流システム、光モジュール、3-D操作台、自動高さ調節センサー、サンプル室などの部品の動作状態を検査することができる。

設備の特徴：
1、システムはまた植物の葉に対して深さの分析を行うことができます；
2、グループを編成し、自動的に順次実行し、測定作業を高度に自動化することができる、
3、ユーザーはサンプル画像上で任意にレーザーサンプリングモードを編集することができる、
4、自動高さ調節センサー、サンプル室などの部品の動作状態、
5、ユーザーは複数のハードウェア部品をコマンドセットを実行し、時間順に配列することができる、
6、異なるサンプルエリアを閲覧しやすく、柔軟なサンプリング方式を設立する、
7、連続調整可能な光学減衰器、集積レーザーエネルギー監視ユニット。

J 200フェムト秒レーザエッチング注入システムASI会社の技術チームは30年以上のレーザーエッチング技術の基礎研究経験とLA-ICP-MS方法の研究背景を持っており、システムは非熱過程を通じて、超高レーザー放射を加えてサンプルをエッチングし、発生した粒子はICP源で完全に消滅することができ、測定過程で高精度、安定した元素または同位元素信号を得ることを確保し、J 200 LA-fsエッチングは均一に一致し、エッチングしたサンプル粒子はサンプルの化学特性を代表することができ、高度に整合した標準物質を必要とせず、高精度、定量LA-ICP-MS測定を行うこともできる。