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LSR-3セベック係数/抵抗テスタ-LSR-3 Seebeck&Electric Resistivity Unit LSR-3 Seebeck Coefficient/Electric…
熱出力、熱電位、またはSeebeck係数は、材料が一定の温度差条件下で誘導熱電電圧を発生する大きさを記述しており、単位はV/Kである。近年、直接熱エネルギーを電気エネルギーに変換する方法が広く関心を集めている。熱電装置を通じて熱エンジンと燃焼システムの余熱を収集し、電気エネルギーに変換することで数十
製品の詳細
熱出力、熱電位、またはSeebeck係数は、材料が一定の温度差条件下で誘導熱電電圧を発生する大きさを記述しており、単位はV/Kである。
近年、直接熱エネルギーを電気エネルギーに変換する方法が広く関心を集めている。熱電装置を通じて熱エンジンと燃焼システムの余熱を収集し、電気エネルギーに変換することで数十億ドルを節約することができる。
Linseisは一連の挑戦的な応用に対応するために、材料とデバイスの特性を分析するためにLSR-3 Seebeck係数/抵抗率試験システムを開発した。
特徴
- LSR−3試験システムは、Seebeck係数と抵抗（抵抗率）を同時に測定することができる
- 円筒形または角柱形の試料を測定でき、長さは6-23 mm
- 独自の測定アダプタを使用して線状とフレーク状のサンプルを測定することができます
- 3種類の交換可能な炉体により、測定温度範囲は-100 ~ 1500℃をカバーすることができる
- サンプルラックの設計は優れた測定反復性を保証する
- 32ビットソフトウェアはプログラムによる自動測定が可能
- 測定データのエクスポート
測定原理：
円筒形または角柱形の試料が垂直に配置された2つの電極の間に、下部電極ブロックはヒータを含む。測定装置全体が炉体に置かれている。炉体全体と試料を特定の温度に加熱し、この温度で電極ブロック中の二次加熱器を用いて温度勾配のセットを確立し、その後、2つの接触熱電対で温度勾配T 1とT 2を測定した。独自の熱電対接触機構により、最高の温度精度で各熱電対上の各導線起電力dEを測定することが保証されている。
四端法で抵抗を測定し、サンプルの両端に一定電流（I）を流し、サンプル電圧の変化を測定し、抵抗係数を測定することができる。
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モデル |
LSR-3 |
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おんどはんい |
-100～500℃ RTから800/1100/1500℃ |
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そくていげんり |
セベック.係数：せいてきちょくりゅうほう 抵抗率：よんたんしほう |
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雰囲気 |
不活性、酸化、還元、真空 |
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サンプルホルダ |
サンドイッチ構造クランプと両電極との間 |
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サンプルサイズ（円筒形または角柱形） |
2～5 mm（面幅）、23 mm φ6mm，23mm |
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サンプルサイズ（円盤状） |
10, 12.7, 25.4 mm |
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可変プローブ距離 |
4, 6, 8 mm |
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れいきゃくすい |
必要 |
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セイベック係数測定範囲 |
1 ~ 2500μV/K 精度±7%繰返し性±3% |
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導電率測定範囲 |
0.01 終了2*105s/cm 精度±5-8*%；再現性±3% |
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電源装置 |
0～160 mA、長期安定性がある |
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でんきょくざいりょう |
ニッケル（-100から500°C）/白金（-100から+1500°C） |
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ねつでんつい |
K/S/Cタイプ |
すべてのLINSIS熱分析装置すべてコンピュータで制御されており、各ソフトウェアモジュールはMicrosoftだけですか？Windows?オペレーティングシステム上で動作します。完全なソフトウェアには、温度制御、データ収集、データ解析の3つのモジュールが含まれています。LSR用の32ビットLinseisソフトウェアは、他の熱分析システムと同様に、すべての測定準備、実装、評価の基本機能を実現することができます。専門家とアプリケーションエンジニアの努力を経て、LINSISは操作しやすく実用的なソフトウェアを開発した。
特徴
- テキスト編集
- 繰り返し測定可能な少ない入力パラメータ
- リアルタイム測定解析
- 測定曲線比較：最大32曲線
- 曲線控除
- 多様な方法分析（DSC TG、TMA、DILなど）
- 曲線の拡大縮小
- 1次/2次コンダクション
- たじゅうピークかいせき
- サンプル温度多点補正
- エンタルピー多点補正
- 熱流Cp測定
- 評価結果の保存とエクスポート
- ASCIIデータのインポートとエクスポート
- データをMS Excelに生成
- シグナルコントロール測定シーケンシング
Linseis LSR-3アクセサリ:
- 4つの異なる炉体：
- -100°C -- 500°C
- RT -- 800°C
- RT -- 1100°C
- RT -- 1500°C
- 異なる幾何形状を測定するサンプル
- 円筒形または矩形サンプル
- 同一サンプルはLinseis LSR-3とLinseis LaserFlash LFA 1000またはXenonFlash XFA 300/600上の測定に直接使用でき、サンプルの一致性を保証し、サンプルの形状による測定の不確実性を回避する。
ざいりょう
半導体、金属及び合金
工業分野
自動車/航空/宇宙、開発研究と学術研究、半導体業界/センサ/熱発電機/冷凍設備
適用例：
典型的なテルル含有化合物熱電材料は室温から200℃の温度範囲で試験され、抵抗率とSeebeck係数のこの温度区間の曲線は下図を参照してください。
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