HTIM-300型高低温材料抵抗率試験器

高低温試験プラットフォーム

6517B高抵抗テスタ

2450ていていこうけい

HTIM-3高低温材料抵抗率試験器主に半導体材料の導電性能の評価とテストに用いられ、このシステムは四線抵抗法の測定原理を用いて設計開発を行い、高温、真空雰囲気の条件下で半導体材料の抵抗と抵抗率を測定することができ、測定サンプルの抵抗と抵抗率の温度、時間による変化の曲線を分析することができる。現在、主にウエハ、ブロック、長尺などの試験サンプルに対して試験を行い、半導体材料シリコン（si）、ゲルマニウム（ge）,化合物半導体材料ガリウム砒素(GaAs)、アンチモン化インジウム（InSb)、三元化合物半導体GaAsAl、GaAsP、固溶体半導体、例えばGe-Si、GaAs-GaPなどのブロック材料の抵抗率測定などの材料の抵抗率測定を行う。

主な用途：

半導体材料抵抗試験

ふくごうぜつえんざいりょう

セラミック材料

マイカ

ガラス材料

導電性機能性薄膜材料

ぜつえんメタマテリアル

シリコーンゴム材料

PCB材料
一、主な技術パラメータ：
温度範囲：-160℃-600℃
昇温スロープ：0-10℃/min (一般的な値：3℃/min)
温度制御精度：±0.5℃
抵抗測定範囲：0.1mΩ~1MΩ
抵抗率測定範囲：100nΩ..cm~100KΩ.cm
測定環境：不活性雰囲気、還元雰囲気、真空雰囲気
測定方法：四線抵抗法
テストチャネル：シングルチャネル
サンプルサイズ：10mmx10mmX20mmまたはφ＜20mm ,d＜5mm
電極材料：紫銅メッキ
絶縁材料：99アルミナセラミックス
データストア形式：TXTテキスト書式
データ転送：USB
基準を満たす：ASTM
電力供給：220V±10%，50Hz
動作温度：5℃から+ 40℃；
保管温度：–40 ℃から +65 ℃
動作時湿度：+40 ℃の場合、相対湿度が最大95%（結露なし）
デバイスサイズ：400x450x580mm
重量：38kg