マイクロ領域電気化学インピーダンス試験システムLEIS 370/470-グローバルベンダー

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マイクロ領域電気化学インピーダンス試験システムLEIS 370/470

マイクロ領域電気化学インピーダンス試験システムLEIS 370/470は電気化学インピーダンスEIS技術とマイクロ領域走査技術を結合し、可能なものは局所マイクロ領域のインピーダンスと対応するパラメータを試験する。

製品の詳細

マイクロ領域電気化学インピーダンス試験システムLEIS 370/470

適用：

* 薄膜インピーダンス複雑イメージング

* 池成長媒体の直接画像化

* スポット化反応の特徴化

* バッテリ

* センサ

* 金属及び合金の不動態化

* ねんりょうタンク

* ふしょく

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