マイクロ波比表面積計

JW-BK 400シリーズ

四局比表面及び孔径分析器

比表面積及び孔径分布は、マイクロナノ粉体材料の表面物性及び孔構造を特徴づける重要なパラメータの一つであり、常用、信頼性のある方法は静的容量法ガス吸着である。JW-BK 400シリーズ高フラックス全自動比表面及び孔径分析器は粉体材料比表面積及び孔径分析問題を正確かつ確実に解決することができ、この製品は4つの独立並列分析ステーションを配置し、テスト効率が超高く、ナノ粉体材料の比表面メソポーラス大孔高フラックス分析問題を効果的に解決することができ、中大型企業の多サンプル、高効率テスト需要を満たす。