ETAC SIR13/SIR13 mini/SIR13 SLIMPCB板絶縁抵抗劣化試験システム

SIR 13/SIR 13 miniの主な特徴：

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3種類のテストを行うことができます：イオン移動、絶縁抵抗、絶縁特性

すべてのチャネルにマイクロ電流計を備え、抵抗を高速（40 ms/8チャネル）で連続的にテストできる SIR 13/SIR 13 miniは瞬間的に起こるイオン移動現象を正確に捉えることができる（発生から終了まで）

250 V試験基板：8チャネル／1電源最大128チャネル 500 V試験基板：1チャネル／1電源最大64チャネル 1000 V試験基板：1チャネル／1電源最大64チャネル 120 V試験基板：チャネルごとに試験条件（印加電圧、電流測定値）を設定可能

SIR 13/SIR 13 miniは、印加電圧と測定電圧を任意に設定でき、切り替え時にリーク現象が発生しない。

SIR 13 miniは小型モデルで、最大3枚のSMUテスト基板を組み立てることができる。

ETACアイテックSIR 13/SIR 13 mini/SIR 13 SLIM PCBボード絶縁抵抗劣化試験システム仕様パラメータ：

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ローディング電圧	100VPulse/250V/500V/1kV
高電圧セル	1.5kV/3kV/6kV/10kV
そくていばん	最大8枚（16 ch/プレートの場合、Max128ch)
最大電流測定範囲 測定レンジ及び分解能	1）30 mA（1μA解像度） 2）3.2 mA（10 nA解像度） 3）320μA（1 nA分解能） 4）3.2μA（10 pA分解能） 5）32 nA（100 fA解像度） 6）320 pA（1 fA解像度）