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製品の詳細
-機器紹介
本装置は可動示度の光検出器を用いて光回折の光強度分布を測定し、半導体レーザの焦点を自由に調節することができる。
-実験内容
1、単糸、単縫合の回折現象を観察し、その光強度分布を測定する
2、波長、スリット幅と光強度の関係を検証する
3、ハイゼンベルクの不正確な原理を理解する
4、バビネの原理を検証する
-基本構成とパラメータ
オンライン照会
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連絡する
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単位
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電話番号
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Eメール
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ウィーチャット
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認証コード
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メッセージの内容
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