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製品の詳細
■製品説明
定常熱反射試験法は、レーザー熱反射に基づく技術（TDTR、FDTR）と定常熱伝導技術を組み合わせて、高速、小スケールの定常状態測定を行う。
広い熱伝導率試験範囲は0.05 W/mK ~ 2500 W/mKであり、SSTR-Fは数百ミクロン未満の試料も試験できる。光ファイバアセンブリとレーザーを透過するシステムは便利な使用を提供し、オプションのFDTR測定モジュールは半径方向、横方向の熱伝導、及び材料境界の熱インピーダンスを測定することができる。自動プラットフォームを組み合わせることで、100 mmの熱伝導分布図を作ることができます。
定常熱反射試験法は、レーザー熱反射に基づく技術（TDTR、FDTR）と定常熱伝導技術を組み合わせて、高速、小スケールの定常状態測定を行う。
広い熱伝導率試験範囲は0.05 W/mK ~ 2500 W/mKであり、SSTR-Fは数百ミクロン未満の試料も試験できる。光ファイバアセンブリとレーザーを透過するシステムは便利な使用を提供し、オプションのFDTR測定モジュールは半径方向、横方向の熱伝導、及び材料境界の熱インピーダンスを測定することができる。自動プラットフォームを組み合わせることで、100 mmの熱伝導分布図を作ることができます。
SSTR-Fはバージニア大学ExSiTEラボProfessor Patrick Hopkinsによって開発された。
For paper reference: A steady-state thermoreflectance method to measure thermal conductivity - Review of Scientific Instruments 90, 024905 (2019); https://doi.org/10.1063/1.5056182
| 固体、液体 | |
| 熱伝導範囲 | 0.05 to 2500W/mk |
|---|---|
| ホットスポット寸法 | >100um |
| おんどはんい | 80K to 600K |
| **度 | 5% |
| さいせい | 2% |
| FDTR | |
| 熱伝導範囲 | 0.05 to 2500W/mk |
| 方向を測る | 厚み方向、平面方向 |
| フィルム厚さ | >5nm |
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