製品の概要

テラヘルツは近年、科学研究分野で非常に人気のある研究方向であり、テラヘルツ時間領域スペクトル試験技術は新興の盛んに発展している技術である。現在、国内外の物理学、光学関連分野の科学研究実験室の多くはテラヘルツ時間領域スペクトル試験設備を装備し、メタ材料、半導体材料などの研究を行っている。しかし、テラヘルツスペクトルの極めて特色のある生体高分子識別特性は、実際に使用されることはほとんどありません。

Eachwaveが発売したテラヘルツ減衰全反射試験モジュールは、主に含水量の多い細胞、組織などのサンプルに対して、全反射を減衰することでサンプルのテラヘルツスペクトルに対する吸収スペクトルを試験することができる。テラヘルツスペクトルの生体高分子指紋識別特性を生体試料の分析試験に本格的に適用することができる。より多くの人の生物科学研究ユーザーに新たな強力なサンプル分析研究手段を追加させた。

入射テラヘルツスペクトルに強い吸収を持つ試料を試験するために特化したテラヘルツ減衰全反射試験。テラヘルツ帯域の減衰全反射モジュールコア部品は高抵抗シリコン（HRSi)プリズム、HRSiテラヘルツ帯域（0.1-4THz）は平坦で高い屈折率を有し、0.1-4THz，HRSi屈折率は約3.416。

下図に示すように、テラヘルツビームは高屈折率の高抵抗シリコンを通過する(HRSi)プリズム、小屈折率の試料に入射し、試料と高抵抗シリコン(HRSi)界面全反射、この過程でテラヘルツ(THz)光ビームは試料中に一定の透過深さ、すなわち全反射過程で発生したエバネセント波が試料中に一定の距離を伝播し、最終的に試料を搬送する情報が反射される。この方法により、テラヘルツ波の吸収が強く、通常の透過または反射方法では試験できないサンプル（生物サンプル、細胞タンパク質など）を試験することができる。

技術パラメータ

高抵抗シリコン屈折率	3.416
サンプルプールサイズ	25mm*40mm
サンプル屈折率要件	< 2.5
THzビーム入射角度	51.6°

高抵抗シリコン屈折率分散曲線

テラヘルツ減衰全反射試験モジュールは顧客のTDSシステムに用いられる

ATRモジュールはTDSシステム（THzビームは平行で直径は約2 cm）に応用され、