テラヘルツ材料特性化システム
8500 Series THz System for Materials Characterization
新しい測定システム:
•電気、磁気、化学、材料の研究、および特性の説明に使用されます。
•テラヘルツ周波数のエネルギーと集積高磁場低温サーモスタットを用いて、広い周波数範囲、温度範囲、磁場強度範囲における材料のスペクトル応答を測定する
•テラヘルツ光学の専門知識を必要としない人。
•テラヘルツスペクトルに通常関連する複雑な光学系設定を排除する完全統合ソリューション。1つのサンプルをロードしてから測定を開始する必要があります。
アプリケーションソフトウェア |
統合されたクライオサーモスタットとサンプルプラグイン |
・実験設定/運転 ・プログラム温度と磁場測定 ・スペクトルデータの解析 |
・可変温度は5〜300 Kの範囲 ・超伝導磁石分野9 T ・テラヘルツ用に26 mm口径に適した低温サーモスタットをカスタマイズ |
れんぞくはテラヘルツスペクトル |
しりょうばん |
・連続波(CW)テラヘルツエネルギーを用いた測定 ・振幅と位相検出200 GHzから1.5テラヘルツ ・500 MHZ未満のスペクトル分解能 |
・サンプルサイズ10 mm ・測定、テラヘルツ伝送 ・機械式自動調整サンプル位置 |
統合制御 |
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・336温度制御器 ・625超電導磁石電源 ・ヘリウム液位計 ・電動サンプル位置決め制御 |
そくてい |
コヒーレント振幅と位相、連続波(CW)のTHz透過バンド集積可変温度と可変磁場能力測定 |
テラヘルツ発生/けんしゅつ |
低温サーモスタット内の低温/磁場互換光混合 |
テラヘルツ帯域幅 |
0.2 to 1.5 THz |
テラヘルツアンテナ |
正方形ヘリカルアンテナ(スピン材料測定用逆ヘリカルアンテナオプションカード付き) |
周波数分解能(minimum) |
<500 MHz |
テラヘルツダイナミックレンジ |
0.2テラヘルツ:50 dB |
そうさじかん |
10分未満の完全帯域幅1 GHzの解像度スキャン |
プラットフォーム |
液体ヘリウム低温サーモスタットと±9 T超伝導磁石 |
おんどはんい |
5 K to 300 K |
じば |
±9 T |
サンプル挿入 |
低温サーモスタットプラグインとサンプルと参照測定自動化三桁回転パレット |
サンプルサイズ |
10 mm (0.4 in) × 10 mm (0.4 in), 最大値 |
方向 |
テラヘルツは磁場と平行であり、両者はサンプル平面に垂直である |
サンプル空間の雰囲気 |
ヘリウムガス |
ソフトウェア |
完全制御テラヘルツ測定と低温/磁場環境のためのLakeshoreソフトウェア |
データ処理 |
テラヘルツ元データをすべて可視化 |