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薄膜熱伝導率試験システム(TCT-3 HT)
薄膜熱伝導率試験システムTCT-3 HTは3ω試験方法を採用し、マイクロ/ナノ薄膜材料の熱伝導によるヒータ電気信号の変化を利用してその熱伝導率を測定した。主な応用範囲はマイクロ/ナノフィルム材料の温度変化に伴う熱伝導率の傾向であり、広範な科学研究者に安定で信頼性のある実験根拠を提供する。集積回路放熱
製品の詳細
製品の特徴
・薄膜熱伝導率試験システムTCT−3は、マイクロ/ナノ薄膜材料の熱伝導によるヒータ電気信号の変化を用いてその熱伝導率を検出する3ω試験方法を採用する。
・温度変化を直接測定するのではなく、伝熱中の材料の温度変化による電気信号の変化を測定することにより、薄膜材料の熱伝導率試験を実現する。
・高精度のデジタルソーステーブルと位相同期増幅技術を組み合わせて、測定結果の正確性を保証する。
●最適化された加熱電極の形状と寸法設計により、加熱均一性と試験応用の安定性を保証することができる。
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