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薄膜熱電パラメータ試験システム（MRS-3）
薄膜熱電パラメータ試験システムMRS-3は薄膜材料の温度変化seebeck係数と抵抗率の測定器に特化し、動的法と四線法を用いて試験結果の正確と安定を保証し、広い試験範囲と便利な操作界面を持っている。
製品の詳細
製品の特徴
・薄膜材料に特化したSeebeck係数と抵抗率測定。
●試験環境温度範囲は81 K ~ 700 Kに達した。
●動的法を用いてSeebeck係数を測定し、温度差測定における静的測定の系統的誤差を回避し、測定がより正確である。
・4線法を用いて抵抗率を測定する。
●カチューシャ設計、サンプル交換を容易にし、効率を高める。
●ソフトウェアの操作が簡単で、知能化は全自動モードを実現することができる。
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