コア明日圧電ファイバチップコントローラプロパティ

0 ~ 2000 V/-500 ~ 1500 V出力

最大出力150 W

シャーシタイプ：1～4チャンネルカードタイプ：2または3チャンネル

カード式2/3チャネル出力

AMD/AMTは2/3チャネル出力の高圧コントローラで、1チャネルは固定500 V電圧出力、その他のチャネルは可変出力0-2000 V電圧である。

シャーシ1～4チャネルオプション

HVA 1500/50シリーズコントローラは、1 ~ 4チャンネルの4種類の規格モデルから選択でき、出力電圧は-500 V ~ 1500 Vである。

コア明日圧電ファイバチップコントローラ

ファイバ延伸

光ファイバは光遅延器として機能する場合は光ファイバを通過する光パルスに遅延を発生させ、光ファイバが延伸される場合は延伸歪みを発生させ光ファイバ長を変化させて付加的なパルス遅延を発生させる。光ファイバ延伸機構は、圧電セラミックスの伸長を利用して外部機械構造間の距離を推進し、圧電セラミックスの収縮は機械構造を反発させ、外部機械構造に巻き付けられた光ファイバを延伸する。

ピエゾ電気ディスペンサーバルブ

圧電式噴射ディスペンサー弁は非接触式噴射ディスペンサー弁であり、圧電セラミックスは圧電噴射ディスペンサー弁の重要な部品として、その差分微小運動を通じて、噴射弁の開閉を制御する。

優れたディスペンサー精度とプロセス制御。非接触式のディスペンサー方式により、Z軸移動を解消し、より高い生産効率を実現し、針がワークに衝突するのを回避し、良品率を向上させた。コアの明日のセット制御は、10μF負荷を50μsまでのステップ時間で駆動することができる。

貼付ゴム、導電性銀ペースト、IC封止ゴム、底部充填ゴム、封止ゴム、表面塗布ゴムなどの各種接着剤の制御可能な流量、高速ディスペンサー作業に広く応用されている。

その場テスト

その場テスト（ミクロ力学テスト＋可視化モニタリング）：ナノスケールで試料材料に対して力学性能テストを行い、集積走査電子顕微鏡（SEM）、X線回折計（XRD）、Raman分光計、原子間力顕微鏡（AFM）、画像制御器（CCD）、金相顕微鏡などのイメージング装置が材料に発生したミクロ変形損傷を全過程動態モニタリングする力学テスト技術に適合でき、各種類の材料とその製品のミクロ力学挙動、損傷メカニズム及びその荷重作用と材料性能との相関性法則を深く明らかにした。

よくダンピング

圧電湾曲片を通じて翼モデルの断面幾何形状を動的に調整し、乱流の発展を抑制し、動的失速を制御し、翼の空力利得を実現することは、流場の能動制御の有効な方法である。

光ファイバセンサ

光ファイバセンサは、光源からの光を光ファイバを介して変調器に送り込み、測定すべきパラメータと変調領域に入る光とを相互作用させ、光学特性を変化させる。その中の圧電セラミックスの役割は光電の相互作用を行うことであり、圧電セラミックスの変形によって、光ファイバ間の距離を変え、それによって光の強度、波長、周波数などを変えることができる。

ピエゾペンチ

超音波溶接における半田の精密位置決めは重要な役割を果たしており、圧電クランプは電気信号を利用して圧電セラミックスの伸びや短縮を制御してクランプと緩みを制御し、それによって半田の移動を動かして精密溶接を完成させる。