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製品の詳細
エネルギー分散X線蛍光分析装置
FISCHERSCOPE X-RAY XULとXULMシリーズは、各めっき工場の基礎設備である。簡単で使いやすいエネルギー分散X線蛍光分析器はめっき液成分の監視に適しているが、品質制御の面でも不可欠なヘルパーである：頑丈で耐久性があり、量産部品（ナットやボルトなど）上のめっき層の測定に非常に適している。
XUL/XULMシリーズのすべてのX線分光計は操作が簡単で直感的である。大きなサンプルは簡単に手動で測定室に置くことができ、あるいは、小さな物品（例えばプラグ）に対して、機器は手動試料台を備えることができる。測定装置はコンパクトですが、高さ17センチまでの十分なスペースを提供しています。
さまざまな測定タスクがある場合は、X線XULMが相互に切り替わるフィルタとコリメータがあるため、アプリケーションのために測定条件を作成することができます。また、XULMはマイクロフォーカスチューブを内蔵しており、測定点が微小でめっき層が薄い場合でも正確な結果を提供することができます。
特徴：
DIN ISO 3497とASTM B 568に基づいて、X線蛍光法を用いてめっき液を分析し、めっき層の厚さを測定する；
XULMの最小測定点は約0.1 mm、XUL最小測定点約0.5 mm；
X線源としてタングステンX線管又はタングステンマイクロフォーカス管（XULM）、
実践的に検証された短い測定時間を用いた比例受信機；
コリメータ：固定または4つの自動切り替え；
プライマリフィルタ：固定または3つの自動切り替え；
固定サンプルテーブルまたは手動XYステージ；
測定点を光学的に観察するためのカメラ；
認証された全面防護設計、
適用＃テキヨウ＃：
鉄上の亜鉛または鉄上の亜鉛ニッケルなどのめっき層、大量生産部品（ナットとボルト）の腐食保護；
めっき液中の金属含有量の分析；
装飾性コーティングCr/Ni/Cu/ABS；
エレクトロニクス業界のコネクタと接点上のめっき。
FISCHERSCOPE X-RAY XAN
XULシリーズと同様に、FISCHERSCOPE®X線XAN®器具は簡単な形状のサンプルを分析するのに適している。しかし、XANシリーズの大きな利点は、その半導体検出器にある。X線蛍光はめっき層の厚さを測定するだけでなく、合金（例えば銅）の成分を分析することもできる。
XANシリーズには、広範な応用範囲をカバーする5種類のデスクトップXRF分光計が含まれている。XAN 215は、コスト効率の高いPIN検出器を有する。鉄上の亜鉛層やAu/Ni/Cuなどの簡単なめっき厚タスクに最適です。より複雑な合金または貴金属用途には、XAN 220などのシリコンドリフト検出器SDDを備えたデバイスを使用することをお勧めします。解像度が高いため、金と白金を確実に分けることができます。
特徴：
DIN ISO 3497及びASTMB 568規格に基づく金属及び貴金属分析、めっき層厚測定及びRoHSスクリーニングのための汎用X線蛍光分光計；
ハイエンド半導体検出器（PINとSDD）は優れた検出精度と高解像度を確保する；
XAN 250及び252：アルミニウム、シリコン又は硫黄のような軽元素を測定するために用いられる、
コリメータ：固定または4種類切り替え可能、最小測定点は約0.3 mm
基本フィルタ：固定または6種類の切り替え可能
サンプルホルダーまたは手動XYステージを固定する
カメラは最適な測定位置を容易に特定
サンプルの高さは最大17センチ、
適用＃テキヨウ＃：
歯科合金の非破壊分析、銀テスト；
多層めっき試験；
電子及び半導体業界における厚さ10 nm以上の機能性コーティングの分析；
消費者保護における微量分析、例えば試験玩具における鉛含有量；
ジュエリー業界と製油所の最高精度要求に基づいて金属合金含有量を測定する。
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