浙江一諾機電有限公司
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X線蛍光めっき層厚測定器920
X線蛍光(XRF)を用いてめっき層の厚さ測定と材料分析を行い、プロセスと品質制御を向上させる
製品の詳細
  • X線蛍光(XRF)を用いてめっき層の厚さ測定と材料分析を行い、プロセスと品質制御を向上させる。
    X-Strataは構造がコンパクトで、頑丈で耐久性があり、品質制御のための信頼性の高い卓上型X線蛍光分析装置であり、簡単で、迅速で、損傷のないめっき層の厚さ測定と材料分析を提供する。
    それは電子業界、金属めっき業界、金属合金業界及び貴金属分析業界などの工業分野で卓越した分析能力を示し、マルチめっき層の厚さの測定を行うことができる。
    めっき層厚測定器X-Strataシリーズ提供:
    非破壊分析:サンプル調製不要
    業界で認定されたテクノロジーと信頼性により、毎年の収益性を確保
    操作が簡単で、簡単なトレーニングだけが必要です
    解析には3ステップしか必要ありません
    優れた解析精度と精度
    めっき層の厚さ測定分野で20年以上の豊富な経験を持つ
    機能が強く、操作が簡単なX線蛍光分光計を用いてめっき層の厚さ測定を行い、品質を保証すると同時にコストを低減する。
    操作が簡単な品質制御分析計であり、めっき層の厚さ測定と材料分析を満たす。
    新モデル設計
    高速分析(数秒)1〜4層めっき層の厚さ
    標準サンプルテーブル、深化サンプルテーブル、自動プログラマブルサンプルテーブルなどの複数の仕様は、すべてのサンプルタイプを満たす
    スロット式サンプルキャビンは、プリント配線板などの大面積サンプルを検出することができる
    ISO 3487及びASTM B 568に準拠する検出方法
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