VIP会員
X線蛍光めっき層厚測定器FT 160
▶ PCB、半導体と電子業界専用金（1）PCB/PWB表面処理：表面処理プロセスを制御する能力は回路基板の品位、信頼性と寿命を決定する。非めっきニッケル（EN，NiP）めっき厚さと組成構造をIPC 4556とIPC 4552 Aに基づいて測定した。FT 150の大面積ステージは、各種の軟板硬板めっき
製品の詳細
-
FT 160はマイクロエレクトロニクスデバイスのマイクロ焦点スポット分析であり、この時代遅れの機器は、マイクロ焦点スポットと薄めっき層分析のために設計され、ますます小型化する電子業界とPCB板めっき層の挑戦に対応することができる。
■FT 160は、
1.毛細管集束光学部品と高感度SDD検出器。
2.50μm未満の試料測定
3.**のパフォーマンスは、半導体チップ技術の課題に対応します。
4.生産性を向上させるために簡単な方法で結果を迅速に得る。
5.サンプル提示速度を速める広範なサンプルハッチとサンプルテーブル。
6.試験監視を行う広いサンプル観察窓。
-
プロジェクト 説明 X線照射方向 上方照射式 測定要素 Al (13) ~ U(92) ターゲットざいりょう タングステン（W）target、モリブデン（Mo）target 測定環境 大気 X線発生部 45 kV，モリブデンMoターゲット せっけい キャピラリフォーカスPoly-capillary かんでんりゅう *大1000μA可変 X線検出部 Silicon Drift Detector (SDD) 面積を測定する φ0.030mm(FWHM 0.017mm) *大サンプル面積 FT 160縦400 mm×横300 mm×高さ100 mm
FT 160 L 600 mmx 600 mm専用モデル電動XYサンプルテーブル駆動移動範囲 400×300mm CCD Camera 高品質カメラは16倍ズーム可能 フォーカスモード レーザーオートフォーカス 測定モード Thin Film FP（5層、10要素）/検量線法
オンライン照会
-
連絡する
-
単位
-
電話番号
-
Eメール
-
ウィーチャット
-
認証コード
-
メッセージの内容
-