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製品の詳細
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X蛍光に基づくコーティングの厚さと材料分析は業界内で広く認可された分析方法であり、使いやすく、迅速で、損傷のない分析を提供し、サンプルの調製をほとんど必要とせず、元素周期表上の13Al着92Uの固体または液体サンプル。X−Strata 920は、単層および多層めっき（合金層を含む）を分析するためのさまざまな構成を提供する。4種類のサンプル台の配置は、それぞれ標準台、井戸深さ式、拡張式、プログラム制御式であり、需要に応じて任意の形状の部品サンプルを分析することができる。- スロット式サンプルボックスの設計では、機器の幅より大きいサイズのプリント配線板や小型のコネクタ、コネクタサンプルなどの大型平板サンプルを測定することができます。すべてのサンプルを簡単に配置して測定点に配置することができます
- サンプルサイズ：270 x 500 x 150 mm
- コリメータ：0.01 mmx 0.25 mm（0.5 x 10 mil）
- 検出器−正比例カウンタ（Tiチタン〜−Uウラン）または高分解能（Alアルミニウム−Uウラン）SDDは、必要に応じて選択することができる
- 金属膜厚及び成分を分析することができ、原子番号22 ~ 92の典型元素のめっき層、化学めっき層
- 多層多元素補正はIPC 4556に準拠し、IPC 4552A
- Z軸自動制御、Z軸オートフォーカスシステム
- 銅ニッケル間の相互干渉を正確に補正するためのコバルト二次フィルタ、適切なニッケル層の**測定
- コリメータ数：6個
- 金属薄膜の厚さは0.03ミクロン（30 nm）から30 umミクロンであり、異なるめっき元素とめっき構造によって異なる
- Hitachi SmartLink FP基本パラメータ法
プロジェクト 説明 測定方向
（X線照射方向）上下から、サンプル表面に一定の幅や平らでない場合でも容易にピントを合わせることができる 外形寸法 幅x奥行きx高さ[mm]：約407 x 770 x 400 mm サンプルテーブル設計 機械の幅より大きいサイズのプリント配線板や小型のコネクタなどの大型平板サンプルを測定し、外掛け式サンプルに接続することができるスロット式サンプルボックス。すべてのサンプルを簡単に配置して測定点に位置決めすることができます。Z軸自動制御（Z方向ストローク：43 mm）
サンプルボックス内部寸法：236 x 430 x 160 mm（幅x深さx高さ）X線源 Wターゲット放射線管 こうあつはっせいき 50 kV, 1.0 mA（50 W）高圧発生器、高圧マルチシフト調整可能 にじフィルタ 銅ニッケル間の相互干渉を正確に補正するためのコバルト二次フィルタ、適切なニッケル層の正確な測定。 X線受信器検査（検出器） 比例カウンタ（Tiチタン〜−Uウラン）または高解像度（Alアルミニウム−Uウラン）SDD 要素範囲 チタン-ウラン、またはアルミニウム-ウラン（SDD） ビデオシステム カラーCCD、30倍光学増幅、200%、300%、400%デジタル増幅。サンプル分析領域
使用者の中間面に表示され、鮮明で使いやすい。Z軸オートフォーカスシステム レーザーはZ軸に用いてX線光管/検出器と測定試料との良好な試験距離を自動的に正確に位置決めする。
「ワンクリック操作」でZ軸テストヘッドを*良い位置に移動し、同時にサンプル画像をピント（スクリーンに表示）します。
自動で簡単な操作により機器テストの再現性が向上し、人為的な測定誤差を*まで低下させる。
注：＊試験距離は12.7 mmで、X線試験ヘッドによって高さ（Z軸）を自動調整する。測定可能なめっき層
要素範囲元素周期表のチタン元素22〜ウラン元素92 測定可能なめっき層数 *複数同時測定可能4層（基材を含まない） めっき層の厚さ測定可能範囲 通常、約0.03ミクロン〜30ミクロンであり、異なるめっき元素及びめっき構造によって異なる。
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