X−ray厚測定器の原理は、X−rayが被測定物を貫通する際の強度減衰に基づいて厚さを変換測定するものである。すなわち、被測定鋼板に吸収されるX線量を測定し、このX線のエネルギー値に基づいて被測定物の厚さを決定する。X線プローブヘッドで受信した信号を電気信号に変換し、プリアンプで増幅し、専用厚測器オペレーティングシステムで直観的に表示される実際の厚さ信号に変換する。

X-ray XUL：

X-ray XULM：

X-ray XAN 220/222:

X-ray XAN 250/252：

X-ray XDLM:

X-ray XDAL:

X-ray XDV SDD:

X-ray XDV-µ:

XDV-uめっき層厚さ測定器の特徴

• 最適化されたマイクロゾーン分析試験機器
• X線光学系によれば、100μm以下の構造を解析することができる
• 極めて高いエネルギー強度により、優れた精度を実現
• 薄めっき層に対しても測定の不確実性は<1 nm
• 平面または平面に近いサンプルにのみ適用
• 底部C型開槽の大容量測定室
• 高速でプログラム可能なXYワークベンチによる自動測定

XDV-uめっき層厚さ測定器の典型的な応用分野

• プリント配線板、リードフレーム、チップ上のめっきシステムを測定する
• 微細部品と微細電線上のめっきシステムを測定する
• 微小構造と微小部品の材料成分を分析する

X-ray XUV 733：

X-ray 4000：

X-ray 5000：

特徴

• 生産ラインでの連続測定用フランジ測定ヘッド
• X線検出器は、比例計数管、ペルチェ冷却シリコンPINまたはシリコンドリフト検出器であってもよい
• 生産過程で直接典型的な製品を用いて迅速で簡単な校正を行う
• 真空または大気中で使用可能
• 最高500°Cの高温基材上で測定可能
• 堅牢性と耐久性が設計の中心

典型的な応用分野

• 光起電力技術（CIGS、CIS、CdTe）
• 金属テープ、金属フィルム、プラスチックフィルム上のめっき層を分析する
• れんぞくせいさんせん
• スプレー及びめっき製造ラインのモニタリング
• 大面積サンプルの測定

特徴

• フィルム、シャフトテープ、プレステープ上のコーティング層を連続的に測定するための製造プロセス
• 測定ヘッドの角度をサンプルの運動方向に合わせて正確に調整することができる
• 操作が簡単で設定時間が短い
• X線検出器は、比例計数管、ペルチェ冷却シリコンPINまたはシリコンドリフト検出器であってもよい
• 複数の位置を測定して測定するための位置決め装置がある
• お客様のニーズに合わせて設計
• オートキャリブレーション
• 1つのラインから別のラインへの迅速な移行が可能
• 品質制御システムとプロセス制御システムに容易に統合できる

典型的な応用分野

• 接触点、プレステープなどのめっきストリップ
• そくていあえんめっき鋼帯
• 太陽光薄膜電池（太陽光発電産業
• 薄膜及びストリップ上の金属被覆層
• 電子工業及びそのサプライヤー
• 生産プロセスの監視

特徴

• 汎用型高級機器、各種測定ニーズに対応
• 測定室は真空引きができ、Z＝11（Na）からの軽元素の分析ができる
• 自動測定用の正確でプログラマブルなXYZワークベンチ
• カメラはサンプルの正確な位置決めと細部での測定に使用される

典型的な応用分野

• 軽元素の測定解析
• 薄めっき層の測定と微量分析
• 汎用材料の分析と鑑定
• 非破壊宝玉分析
• 太陽光発電産業

計器の特徴

• 一般的なすべての機能を備えた高度なモデル計器
• 放射線励起量の柔軟性が最も高く、測定面積の大きさやスペクトル組成に応じて励起量を変えることができる
• シリコンドリフト検出器により、エネルギー分解能の低下なしに、>10万cps（毎秒計数率）の超高信号量でも正常に動作する
• 極めて低い検出下限と優れた測定反復度
• 高速でプログラマブルなXYワークベンチを備えた自動計測器
• 大容量で操作しやすい測定室

典型的な応用分野

• 電子や半導体業界への応用など、極めて薄いめっき層を測定する
• 微量分析、例えばRoHS、玩具規格、包装規格に基づく有害物質の検出
• 高精度の金と貴金属分析を行う
• 太陽光発電産業
• NiPめっき層の厚さと成分を測定する

特徴

• 半導体検出器を搭載し、より良い信号対雑音比があるため、元素分析と薄めっき測定をより正確に行うことができる
• マイクロフォーカスチューブを使用すると、小さな測定点を測定することができますが、信号量が低いため、非常に細かい構造を測定するのには適していません
• 底部C型開槽の大容量測定室
• ポップアップ機能を備えた高速プログラマブルXYプラットフォーム

典型的な応用分野

• めっき層と合金の材料分析（薄めっき層と低含有成分にも適している）
• 原料検査、生産監視
• 研究と開発
• エレクトロニクス産業
• コネクタと接点
• ゴールド、ジュエリー、時計産業
• プリント配線板や電子部品上のAuおよびPdめっきなどの数ナノメートルの薄いめっき層を測定することができる
• 微量元素分析
• 「高信頼性」要求のある応用における鉛（Pb）含有量の決定
• ハードコート分析

XDLMめっき層厚測定器の特徴

• マイクロフォーカスチューブ、4つの切り替え可能コリメータ、3つの基本フィルタを搭載しているため、汎用性が非常に広い
• コネクタや回路基板などの微小構造に適しています。
• 遠隔測定にも適している（DCM方法、範囲0～80 mm）
• 底部C型開槽の大容量測定室
• 自動測定用のプログラマブルデスクトップデバイス

XDLMめっき層厚測定器の典型的な応用分野

• プリント配線板工業における、薄金、パラジウム及びニッケルめっき層を測定した。ニッヶル層の厚さ測定、ニッヶル化厚さ

• プラグインめっき層と接点めっき層を測定する。

• 電子及び半導体業界において機能性めっき層を測定する。

• 金、ジュエリー、時計工業。

特徴

• 高性能モデル、強力な総合測定能力
• 4つの電動調節を備えたコリメータと6つの電動調節の基本的な考慮片
• 高解像度シリコンドリフト検出器（SDD）を搭載し、より複雑な多元素分析にも適している
• 下から上の測定方向により、非常に簡便にサンプル位置決めを実現することができる

典型的な応用分野

• 電子および半導体業界におけるわずか数ナノメートルの機能性めっき層の測定
• 有害物質の微量分析、例えば玩具中の鉛含有量
• ジュエリーや時計業界、金属精錬分野での合金の高精度な分析
• 大学研究と工業研究開発分野に使用

X-ray XDL:

XDLめっき層厚測定器の特徴

• 堅牢で耐久性のあるめっき層厚測定装置は、大きな距離測定（DCM機能、範囲0～80 mm）でも動作可能
• 固定絞りと固定フィルター
• 1 mmからの大きさの測定点
• 底部C型開槽の大容量測定室
• 自動測定用のプログラマブルデスクトップデバイス
• 標準X線管、スケールカウンタ

XDLめっき層厚測定器の典型的な応用分野

• 大規模に生産されためっき部品を測定する
• ニッケル/銅上のクロムなどの防腐めっき層と装飾めっき層。クロム層の厚さ測定、どうあつそくてい
• めっき工業におけるめっき液の分析
• ゴールド、ジュエリー、時計産業

特徴

• 宝石、貨幣、貴金属の非破壊分析のために設計を最適化
• 固定コリメータと基本的な考慮板を備え、特に貴金属分析に適している
• 高解像度シリコンドリフト検出器（SDD）を搭載し、より複雑な多元素分析に適している
• 下から上の測定方向により、最も簡便にサンプルの位置決めを実現することができる

典型的な応用分野

• ジュエリーと時計業界における金と貴金属の分析
• 歯科業界における材料合金分析

XULMめっき層厚測定器の特徴

• 用途の広いめっき層厚測定器、きんそうあつさそくてい、ぎんそうあつさそくていとかきんあつさなどがあります。
• 任意の高圧とフィルタを組み合わせることにより、50 nm Auや100μm Snなどの薄いめっき層と厚いめっき層に対して同様の効果の測定を行うことができる.
• 搭載されたマイクロフォーカスチューブは、100μmサイズの微小測定点を測定することができます。
• スケールカウンタは数千cps（毎秒カウント率）の高いカウント率を実現することができる。
• 下から上への放射線方向により、迅速かつ簡便にサンプルを置くことができる。
• 底部C型開槽の大容量測定室。

XULMめっき層厚測定器の典型的な応用分野

• 配線板工業におけるAu/Ni/Cu/PCBまたはSn/Cu/PCB中のめっき層の測定
• 電子業界におけるコネクタと接点上のめっき層
• 装飾めっきCr/Ni/Cu/ABS
• 大規模生産部品（ボルトとナット）上の腐食防止保護層Zn/Feなどのめっきめっき層、ZnNi/Fe
• ジュエリーと時計工業。
• めっき液中の金属成分の含有量、例えばきんそうあつさそくてい、銀層の厚さ測定。

特徴

• 電気めっき業界におけるめっき層の厚さ測定に用いられる。
• 固定されたコリメータと固定された基本フィルタ。
• X線管にはやや大きな主スポットが配置されており、約1 mm以上の測定点を測定するのに適している。
• 低エネルギービームによる放射線の発生は少ないが、クロム、ニッケル、銅などの従来のめっき層の測定には何の問題もない。
• 下から上への放射線方向により、迅速かつ簡便にサンプルを置くことができる。
• 底部C型開槽の大容量測定室。
• 標準X線管、スケールカウンタ

典型的な応用分野

• 配線板工業におけるAu/Ni/Cu/PCBまたはSn/Cu/PCB中のめっき層の測定
• 電子業界におけるコネクタと接点上のめっき層
• 装飾めっきCr/Ni/Cu/ABS
• 大規模生産部品（ボルトとナット）上の腐食防止保護層Zn/Feなどのめっきめっき層、ZnNi/Fe
• ジュエリーと時計産業
• めっき液中の金属成分含有量を測定する