機器の特性と利点
•XDS NIRテクノロジーにより、シンプルでスケーリングのシームレスな移行が可能
•無人の場合、一連のマルチビットバイアルを自動的に反射分析できる（バイアルサイズはユーザーが選択可能）
•光スポット調整機能を内蔵し、サンプルの照度を最適化
•試料調製不要、試薬不要、廃棄物なし
•集中データベース管理向けネットワークアナライザ
•ホットプラグ対応モジュール：数分で交換が完了し、パフォーマンスに影響を与えない

計器の概要

XDS NIR技術に基づくXDS MultiVial近赤外分光分析器は、試料ボトル中の固体の高速非破壊測定に対して次世代専用近赤外分析方案を提供した。ユーザーは通常の試験の代わりにXDS MultiVial近赤外分光分析器を採用し、製品の検査検疫の放行時間を短縮することができる。実験室においても、現場オフライン分析においても、サンプル瓶の中のサンプルに対して成分分析または材料鑑別検査を行うことができる。この分析器は無人モードでのスペクトル収集をサポートし、操作者は時間を空けて他のサンプルの準備、データの分析などを行うことができる。

XDS MultiVial近赤外分光分析器の汎用サンプルディスクは、ボトルサンプルの連続測定を実現することができる。内蔵のスポット調整機能により、サンプルボトルの直径に応じてサンプルの照度を調整することができます。試料中心位置決めスナップリングは単一試料分析に使用でき、選択された粗粒子分析ユニットは固体試料の分析範囲を微細粉末から粗粒子、球状粒子、シート状粒子などほぼすべての固体に拡大する。


XDS NIR技術は優れた分析性能をもたらし、感度を高めただけでなく、同時にスケーリング方法の研究開発を加速し、実施時間を短縮し、スケーリングのシームレスな移行を保証した。高度でフレンドリーなインタフェース機能を備えたVision® ソフトウェアは簡単に鑑定、定性、定量などの方法を実現することができる。ボタンを押すかマウスをクリックするだけで正確な解析が完了します。