機器の特性と利点

•XDS NIRシンプルでスケーリングのシームレスな移行を実現するテクノロジー

•丈夫で耐久性のある倉庫または工場用分析器

•試料調製不要、試薬不要、廃棄物なし

•集中データベース管理向けネットワークアナライザ

•ホットプラグ対応モジュール——数分で交換が完了し、パフォーマンスに影響を与えることはありません

計器の概要

XDS TOPA近赤外分光分析計は、特に水状製品、透明液体、溶媒、粘性試料の実験室モニタリングに対して設計された。XDS TOP近赤外分光分析計は中間試験過程の応用と生産ラインの測定に適している。

この分析器があれば、使い捨て試料瓶を用いて粘性試料を容易に分析することができ、清掃時間を短縮することができる。オプションのサンプルボトルヒーターモジュールを利用して、このシステムはデータ分析の前に、無人のサンプル加温平衡を提供することもできる（最大200 °C)、実験室の効率を高めた。

XDS NIR技術は優れた分析性能をもたらしただけでなく、スケーリング方法の研究開発を加速させ、実施時間を短縮し、スケーリングのシームレスな移行を保証した。

先進的で、インターフェースにやさしい、ネットワーク接続性のあるVision®ソフトウェアは簡単に鑑定、定性、定量などの方法を実現することができる。ボタンを押すかマウスをクリックするだけで正確な解析が完了します。