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XM-60マルチビームレーザ干渉計
XM-60マルチビームレーザ干渉計
製品の詳細

XM-60マルチビームレーザ干渉計

1回の設定で任意の方向に6つの自由度を測定できる

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独自の技術、光学ロール計測、光ファイバエミッタ

XM-60はレーザー測定システムであり、1回の設定で沿線性軸に沿って6つの自由度の誤差を同時に測定することができる。これには強力な診断ツールがあり、1回の収集で軸のすべての幾何誤差を測定することができます。

スペース補償を実行するユーザーにとって、XM-60は必要なデータグループを取得するための迅速で正確な方法を提供します。すべての測定は光学測定であり、任意の方向で実行することができます。C:\Users\Administrator\Desktop\6363262309576540268385869.jpg

主な特徴と利点:

  • 高速-従来のレーザー技術を利用して、1回の設置で線形、ピッチ、ねじり、ロール、水平方向と垂直方向の直線度など6つの誤差を同時に測定することができる。

  • 簡単-設定が簡単で、他の干渉計システムの使用者がすぐに使いこなせるようにします。自動検出軸の政府方向と図形コリメートにより、人為的誤差が減少した。

  • 信頼性:すべての誤差を直接測定し、テスト中に結果を表示できます。

  • 強力-独自の光学ロール計測システムにより、任意の方向にロール計測を実行できます。

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