• XRD−6100は本質的なセキュリティ構造を有する。
• ドアチェーン機構が閉鎖されている場合にのみ、X線管が開き、高い安全性を備えています。高速運転（1000°/min）及び高精度角度再現性（±0.0001°）の垂直型角計を備え、各種サンプルの測定を行うことができる。駆動機構は独立2軸駆動であり、θ−2θ連動またはθ、2θ軸独立駆動を選択することができ、特にフィルム測定に有効である。
• さまざまなニーズに対応するための豊富なアクセサリ（ソフトウェア/ハードウェア）が用意されています。

X線回折装置XRD−6000環境測定パケット

工業環境における遊離ケイ素及びアスベストの定性・定量分析に適している。
労働安全衛生法では、労働者の勤務中の曝露により健康被害を与えた92物質について、その作業環境の測定を実施しなければならないことが規定されている。なお、粉塵中の遊離ケイ素及び石綿の定性・定量分析にはX線回折装置を用いることができる。最近、関連法規の改正により、有害物質の管理濃度、分析手順が改正された。
本測定パッケージには、X線回折装置XRD−6000を用いてろ紙に収集された工業環境測定における遊離ケイ素、アスベストの定性分析に必要なだけでなく、これら微量サンプルの定量分析にも必要な「下地標準吸収補正法」に基づくサンプルテーブルと定量ソフトウェアが搭載されている。
フリーシリコンの定性・定量分析
工業環境測定における鉱物性粉塵の管理濃度は、以下の式に従って算出された量である。（2005年4月1日より実施）
E=3.0/（0.59 Q+1）（参考）改訂前E=2.9/（0.22 Q+1）E：管理濃度mg/m 3 Q：遊離ケイ素含有率（%）
粉塵中の遊離ケイ酸の含有率を知ることが重要である。
遊離ケイ素の種類は石英、微結晶物、鱗石英などがある。今回の改訂では、まずX線回折装置を用いてどのような種類の遊離ケイ素を含有するかを把握し（定性分析）、その定性結果に基づいてリン酸法またはX線回折装置を用いた下地標準吸収補正法で定量することを規定した。
下図はこれらの遊離シリコンの回折パターンを示しており、それぞれ特徴的なピークを持っているので、その種類を識別しやすい。
物質の回折X線強度は、基質物質の吸収の影響を受けるため、補正を行わなければならない。補正を行うためには下地物質のX線吸収係数を求めなければならない。一度の測定でそれを行うことができる方法が「下地標準吸収補正法」である。本測定パッケージには、この基板吸収補正法を用いた専用定量分析ソフトウェアが含まれる。

各種自由シリコンの回折モード

アスベストの定性・定量分析
アスベストについては、2005年7月に「石綿傷害予防規則」が施行された。この規則を適用した建材等のサンプルは、アスベスト含有量が重量の5%程度以上であれば、X線回折装置を用いて採取したサンプルを標準添加法または内標準添加法で定量することができるが、上記含有量未満のサンプルでは定量できない場合がある。
このとき、試料の基底成分のみを溶解する前処理方法としてギ酸前処理法を実施し、その後X線回折装置を用いて基底標準吸収補正法で定量した。
アスベストの定性・定量分析には、下地標準吸収補正法を備えた環境測定試料台のX線回折装置XRD−6000環境測定パッケージを用いることもできる。

アスベストの回折パターン

アスベストには主に蛇紋石類の繊維蛇紋石、角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角角X線回折法を用いてそれらの特峰を用いて定量分析を行った。