XRFコーティング層厚測定器はX線蛍光分光分析技術に基づいており、この技術は一般的に認可され、広く応用されており、サンプルの調製を必要とせずに操作しやすく、迅速で非破壊的な分析を提供することができる。元素周期表の14 Siから92 Uまでの元素範囲を含む固体と液体を分析することができる。
MAXXI 6は、薄く複雑なサンプルに対して、優れたソリューションを提供しています。MAXXI 6はマルチコリメータシステムと超大サンプルキャビンを備え、*優れた機能性と*高い検出精度を兼ね備えた理想的なツールです。

解析レベル数&要素数

•カスタム（要素の範囲内）

•合金メッキを含むカスタムメッキ構造

X線励起

• 50 kV, 1.2 mA（60 W）高圧発生器

•Be窓マイクロ集束Wアノードターゲット放射管（Moアノードターゲット放射管オプション）

プローブ

•25 mm 2 SDD検出器Peltier電気冷却

•エネルギー分解能140 eV（FWHM for MnKα）

一次グリーンシート（オプション）

•1次フィルタを5ビットまで自動切り替え

コリメータ

•シングルコリメータ：0.1 x 0.4 mm, 0.1 x 0.7 mm, 0.1 mm, 0. 3 mm, 0.5 mm, 0.7 mm Ø

•8ビットプログラマブル交換コリメータシステム0.05 x 0.05 mm、0.1 mm x 0.3 mm, 0.05 mm x 0.25 mm, 0.1 mm, 0.2 mm, 0.3 mm, 0.5 mm, 1 mmØ（オプション）

ディジタルパルスプロセッサ

•4096 CHデジタルマルチチャネルプロセッサ

•デッドタイム補正とパルス蓄積消去機能を備えた自動信号処理