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製品の詳細
一、適用範囲
本装置は各種半導体チップ、フラッシュフラッシュフラッシュ/EMMC、PCB基板IC、光通信（トランシーバtransceiver高低温試験、SFP光モジュール高低温試験など）、電子業界などに適用してIC特性分析、高低温サイクル試験、温度衝撃試験、失効分析などの信頼性試験を行う。
二、技術パラメータ
温度範囲：-80℃~+250℃
温度変換速度：-55℃~+125℃/-125℃~-55℃≦10秒
温度精度：±0.5℃
温度解析度：0.01℃
設備ガス流量：4 ~ 18 SCFM（1.9 L/s ~ 8.5 L/s）
測定モード：AIR MODE（エアインフルエンザ測定）またはDUT MODE（速端測定）動作モード：高温-常温-低温/高温-低温/高温-常温/低温-常温/カスタムプログラミング
運転モード：手動/プログラム/手動サイクル/自動サイクル
外観寸法：幅660 mm、奥行き1050 mm、高さ1000 mm
テーブル重量：150 KG
腕の延長寸法：140 cm
最高・最低サイズ：720 ~ 1220 mm
耐温ガラスカバー寸法：内径140 mm、高さ55 mm（製品寸法に合わせてカスタマイズ可能）
電源：単相220 V、50 HZ、40 A
三、ガス源の要求
給気温度：+15℃~+25℃
吸気圧力：90 ~ 110 PSlG（6.2 ~ 7.6 BAR）
吸気流量：1 ~ 1.5 m 3/min
吸気露点：≦10℃
含油量：≤0.01PPM
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