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上海納騰計器有限公司
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はんじどうウェハボンディングけい
きんせつがたリソグラフィき
アレイ圧力センサシステム
原子層堆積システムALD製品
電子顕微鏡サンプル洗浄機
CMP 20電気化学機械研磨機
レーザ干渉リソグラフィ装置
VITA反応イオンエッチング機（垂直チャンバ）
COWIN高フラックス総合プラズマ反応イオンエッチング洗浄システム
LAVIDAポリパラキシレンコーティング装置
Coシリーズデスクトッププラズマエッチングマシン洗浄機
CLONEデュアルモードプラズマエッチングマシン洗浄機
えきたいりゅうどけい
MezAFM-携帯型原子間力顕微鏡
レーザサンプリング
精密ガラス切断機（テーブルタイプ）
ADR低温恒温乾式mKシステム
液体粒径計-LPC
高温3 Dプリンタ
ブロック抵抗試験器
S 100型デジタルソーステーブル
NX 12生体型原子間力顕微鏡
Zeta-388自動マルチモード光学プロファイル装置
TS 200-HP高出力プローブ台
Zeta-300マルチモード光プロファイル装置
TS 2000-DP高出力プローブ台
TS 50手動小型プローブ台
TS 2500-RF全自動無線周波数プローブ台
TS 3000自動プローブ台
MicroXAM 800白色光干渉計
TS 300 12インチ手動プローブ台
MDO 34オシロスコープ
その場AFM in SEM
パルスレーザ蒸着システム（PLD）
アクティブ防振台AMT
Duramin-100硬度計
3インチナノインプリントNIL 75
その場自動ナノオペレーティングシステム
その場MEMSチップとシンクロトロン放射Holder
In−SEM HT高温インサイチュナノインデンテーション計
Duramin-4硬度計
高温インサイチュナノインデンテーション計
アクティブ防振台ARIST
アクティブ防振台ARISMD
受動防振SOTOTT
受動防振台GWA-M
受動防振台GWA-TO
アクティブ防振台PMT
Diener Picoプラズマ洗浄機
Diener FEMTOプラズマ洗浄機
FT-NMT 04ナノ力学性能試験システム
ACCUTOM-10/-100切断装置
X 1シリーズデジタル調整可能乾燥キャビネット
EZシリーズ立体顕微鏡
DM 4500 P半自動知能デジタル偏光顕微鏡
徂徠カードMシリーズ立体顕微鏡LeicAM 165 FC/205 FA
Sシリーズ立体顕微鏡
徂徠カードMシリーズ立体顕微鏡LeicAM 125/165 C/205 C/205 A
DM 750 P専門偏光顕微鏡
EUV/X線反射鏡
X線フレネル波帯板（FZP）
ラスタテンプレート
MPI Titan無線周波数部品
GBマイクロ波プローブ
Quantifoil多孔質キャリア網
GGBキャリブレーション標準仕様
カスタム型防振システム
イオンビームエッチング/堆積システム
シリコン窒化膜ウィンドウ
AFM基板
AFMプローブ
MPI無線周波数較正基板
GGB能動高インピーダンス針先
GGB直流プローブ
あながたダイプレート
プリズム結合器
Duramin-40硬度計
4インチナノインプリントNIL-100
徂徠カード室温超薄型スライス機Leica EM UC 7
膜厚測定器
BI-2500卓上表面プラズマ共振器
Estableアクティブ防振台
BI−4500高フラックス全自動表面プラズマ共振器
TS 150-HP高出力プローブ台
Scanwave走査マイクロ波近接場インピーダンス顕微鏡
MVI散乱走査近接場光学顕微鏡
TS 150 6寸手動プローブ台
4200 A-SCSパラメータアナライザ
F 40顕微膜厚測定器
Zeta 20マルチモード三次元光学プロファイル計
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