上海絵吉電子科技有限公司
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ブルックD 8ダビンチX線回折計
ブルックD 8ダビンチX線回折計
製品の詳細

ブルックAXS社の新しいD 8 ADVANCE X線回折計は、創造的なダビンチ設計を採用し、TWIN-TWIN光路設計を通じて、BB集束幾何学下の定性定量分析と平行光幾何学下の薄膜すれすれ入射GID分析、薄膜反射率XRR分析の全自動切り替えを実現し、光を必要としない。革命的なTWIST TUBE技術により、ユーザーは1分以内にライン光源応用(通常粉末の定性定量分析、フィルムのGID、XRR)から点光源応用(テクスチャ、応力、マイクロゾーン)への切り替えを完了でき、煩わしい光路交換、光再対などの問題はこれから歴史になる!

高精度の角計は全スペクトル範囲内の各回折ピーク(回折ピークではないことに注意)の測定ピーク位置と標準ピーク位置の誤差が0.01度を超えないことを保証することができ、ブルックAXS社は世界的な保証を提供している!

先進的なリンクスアレイ検出器は強度を150倍に高めることができ、設備の使用効率を高めるだけでなく、設備の検出感度を大幅に向上させることができる。



技術指標:

Theta/theta縦型角計

2 Theta角度範囲:-110~168°

角度精度:0.0001度

Cr/Co/Cuターゲット、標準サイズライトパイプ

検出器:リンクスアレイ検出器、リンクスXEアレイ検出器

機器サイズ:1868 x 1300 x 1135 mm

重量:770 kg


適用#テキヨウ#

物相定性解析

結晶性及び非晶質相含有量の分析

構造の精密化と解析

物相定量分析

こうしパラメータせいみつそくてい

無標本定量解析

ミクロひずみ解析

けっしょうりゅうすんぽうかいせき

その場解析

ざんりゅうおうりょく

低角度メソポーラス材料測定

テクスチャおよびODF解析

フィルムすれすれ入射

フィルム反射率測定

小角散乱

オンライン照会
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